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開発において、多くの場合、特性値と品質とはトレードオフの関係にあり、
品質不具合の解決力が開発力に直結することが多くあります。
本セミナーでは、電子部品や基板における絶縁劣化、腐食、クラックといった
故障原因とその解析事例を示し、クレームへの対応の仕方や分析依頼、人材育成
のポイントにも触れます。分析機器として光学顕微鏡、SEM/EDS、発熱解析、
クラック解析用のFEMシミュレーションなどの原理と活用事例も紹介します。
日 程：2024年10月11日（金）14:00～16:00
受講料：無料
定 員：会場20名+オンライン80名 計100名（先着順）
会 場：かながわサイエンスパーク内講義室（川崎市高津区坂戸３－２－１）
講 師：斎藤 彰 氏（テック・サイトウ代表 元・株式会社村田製作所研究員）
▼お問い合わせ先
地方独立行政法人神奈川県立産業技術総合研究所（KISTEC)
人材育成部 教育研修グループ
TEL：044-819-2033 E-mail：manabi@kistec.jp