★★大手電子部品メーカーにて長年、半導体の開発・故障解析に携わった講師が解説★★
積層セラミックコンデンサ（MLCC）を使用する現場・開発・品質関係者向けに、高誘電率発生の原理を解説し、MLCCの主な故障メカニズム（クラックと絶縁劣化）とその解析事例を示します。
また、近年著しい微細化・小型化の影響とそれに伴う故障リスク、代替品の簡便な選定方法についても紹介します。
＜日 時＞令和7年6月26日（木）11：00-17：00
＜会 場＞かながわサイエンスパーク(KSP)内会議室（川崎市高津区）
＜受講料＞13,000円（税込）
＜講 師＞斎藤 彰 氏（テック・サイトウ代表 元・村田製作所研究員）
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神奈川県立産業技術総合研究所 人材育成部 教育研修グループ ：manabi@kistec.jp
TEL：044-819-2033
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